賽默飛ICP光譜儀主要分為多道型、單道掃描型以及全譜直讀型，其中多道型和單道掃描型代表的是80年代的技術水平，它們以光電倍增管為檢測器，單道掃描型以其合適的價格和靈活方便仍占有一定的*。全譜直讀型儀器代表了當今ICP的技術水準，它以CID或CCD(SCD)半導體器件為檢測器；中階梯光柵結合棱鏡(或平面光柵)構成二維、高分辯率、高能量色散系統(tǒng)，能同時獲得各元素譜線的信息。

　　根據(jù)不同的應用領域，又有垂直觀測、水平觀測和雙向觀測之分，其中垂直觀測型儀器主要適用于基體較為復雜的冶金、地礦、有色金屬等領域；水平觀測型儀器適用于基體較為簡單的水質、環(huán)保、食品衛(wèi)生等領域；雙向觀測型儀器實際上是以水平觀測為主附加垂直觀測的儀器，它的應用范圍仍是基體較為簡單的領域，雙向觀測能彌補水平觀測中所存在的易電離干擾、線性范圍變窄等一些缺陷。

　　下面就賽默飛ICP光譜儀的一些常見問題就行分析處理：

　　1、試劑空白和校準空白的區(qū)別

　　答：校準空白是配標準曲線用的稀釋液。用水配的校準空白是水，若用1%硝酸配，那么校準空白就是1%硝酸。試劑空白跟樣品前處理走的過程一樣。樣品0.5g，加6mL硝酸，1mL雙氧水，用微波消解，試劑空白跟其他區(qū)別在于沒有加樣品，同樣加了6mL硝酸，1mL雙氧水，升溫程序一樣，定容體積也一樣，這種空白叫試劑空白。

　　2、點火失敗的原因

　　答：氬氣不純；炬管潮濕；里面空氣太多，需要通等離子氣和輔助氣；炬管臟；安裝霧室、霧化器、中心管和炬管時沒安裝好，出現(xiàn)漏氣；點火那部分金屬臟，用特別細的砂紙打磨一下即可。

　　3、發(fā)生漂移

　　答：很大原因是實驗室溫度發(fā)生漂移，應單獨配空調保持溫度恒定，而且排風系統(tǒng)要好。

　　4、出現(xiàn)飽和情況

　　答：稀釋；換觀測方式。

　　5、出現(xiàn)負值是什么情況

　　答：空白太高；樣品含量特別低，跟空白差不多；背景點設置不對，越低越好，有個點選到峰高賽默飛ICP光譜儀就會出現(xiàn)負值。